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Indexed by:期刊论文

First Author:张建伟

Correspondence Author:Zhou, Bin(zbhit@hit.edu.cn)

Co-author:丁秋红,周彬,滕飞,马万里,王政操,陈晓明,李志远

Date of Publication:2016-11-30

Journal:哈尔滨工业大学学报

Included Journals:EI、PKU、ISTIC、CSCD、Scopus

Volume:48

Issue:11

Page Number:96-102

ISSN No.:0367-6234

Key Words:扭环计数器;低功耗;确定性;测试向量生成器;单跳变

Abstract:为实现低功耗和高故障覆盖率，基于单跳变测试技术和2－bit扭环计数器，提出一种新型的单双跳变的确定性测试向量产生器．首先，与一般的确定性测试方案直接存储确定性种子不同，利用ROM存储控制信号并通过单双跳变生成确定性种子和确定性测试向量，这样控制信号的长度约为确定性种子的1／2，有利于降低功耗并节约存储空间．其次，2－bit减法计数器合理地过滤了冗余向量，大大缩短了测试时间并降低总体能耗．最后，为了适应不同的测试需求，还设计了相应的测试向量压缩算法和三种x指定算法．实验结果表明，平均功耗分别降低了42．36％、32．32％、38．94％，测试长度分别减少了77．6％、86．1％、84．3％，测试数据分别压缩了79．4％、65．2％、68．1％．