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王子兰

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个人简介

个人简介：

王子兰，大连理工大学光电工程与仪器科学学院副教授。

主要教育和工作经历：

l 本科毕业于南开大学物理学光学方向。

l 博士毕业于香港大学物理系光电材料实验室导师凌志聪徐士杰教授。主要研究光电器件的缺陷性质与表征方法，涉及光致发光（PL）、深能级瞬态谱（DLTS）、正电子湮灭谱（PAS）。

l 博士后工作于清华大学电子工程系集成光电子学国家联合重点实验室，合作导师罗毅院士。主要研究GaN基量子材料与器件的光电性能表征工作，分析局域态发光特性模型，优化量子点发光性能等。

作为项目负责人主持的科研项目：

2024-2027 国家自然科学基金面上项目“基于载流子主动调控技术的Micro-LED缺陷表征研究”

2020-2023 国家自然科学基金青年项目“GaN基量子点单光子源发光闪烁的复合机理和抑制方法研究”

2015-2017 博士后国际交流计划引进项目“InGaN量子结构器件的光学表征研究

主要研究方向：

半导体芯片的缺陷检测与可靠性分析。
半导体芯片制造过程中，缺陷的存在是不可避免的，且会显著影响芯片的性能和可靠性。因此，准确测量和分析这些缺陷是提升芯片性能的关键。研究内容包括但不限于：识别和表征半导体材料及器件中的缺陷；研究半导体器件随着时间变化的退化机制；优化制造工艺以有效提升器件性能。例如，深能级瞬态谱（DLTS）技术通过测量电容瞬态来获取陷阱的物理特性。许多半导体公司和研究机构，如Intel、三星、台积电、IMEC、弗劳恩霍夫研究所以及国内多所大学，广泛采用电学表征方法来测量芯片缺陷，推动基础研究与材料表征。
针对具体缺陷问题开发载流子主动调控的缺陷分析方案。
通过主动调控技术，注入、清空和筛选芯片中的载流子，能够有效开启或关闭缺陷的物理过程，从而揭示特定缺陷能态与表征物理过程之间的对应关系。我们的研究还致力于将科研成果转化为实际应用，设计并开发定制功能的测量系统，以满足半导体行业对高精度、用户友好型DLTS分析软件的需求。该研究方向通过结合基础理论与应用技术，推动半导体缺陷分析和可靠性提升，服务于芯片制造和性能优化的实际需求。

指导硕士生情况：

本小组已培养多名硕士研究生，其中有1人荣获校级“优秀研究生”称号，1人获得校级“优秀团员”荣誉，2人的奖学金从三等升至二等，1人获得单项奖学金，另有1人获得了社会资助的奖学金。此外，有2位研究生在学生会中担任组织部负责人的职务，展现了他们的领导才能和团队协作精神。

我们的硕士研究生在毕业后选择了不同的发展方向。部分学生选择继续深造，攻读博士学位，追求更高的学术成就；而另一些则选择步入职场，加入如中兴等知名企业的技术团队。他们在各自的领域中迅速成长，成为骨干力量，为公司的发展做出了重要贡献。

我们小组始终坚持高质量的研究生培养标准，注重学生的学术研究能力和实践应用能力的双重提升。通过严格的学术训练和丰富的实践活动，我们的研究生不仅在学术上取得了显著成就，也在个人素质和职业发展方面赢得了广泛的认可。未来，我们将继续致力于培养更多优秀的半导体领域的专业人才，为行业的进步作出更大的贡献。