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论文类型：期刊论文

发表时间：2009-04-01

发表刊物：单片机与嵌入式系统应用

期号：4

页面范围：76-78

ISSN号：1009-623X

关键字：CRC校验;数字温度传感器;成电路;控制仪表;系统的可靠性;校验码;最低位;纠错能力;循环冗余校验;线性分组码;

摘要：引言
循环冗余校验(Cyclic Redundancy Check,CRC)是最为常用的计算机和仪表数据通信的校验方法.CRC码是一种线性分组码,编码简单但具有很强的检错纠错能力.除了各种嵌入式仪表、变频器等设备,还有一些数字型传感器的输出数据也提供CRC码,如数字温度传感器DS18B20、集成温湿度采集芯片SHT11等.