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个人信息Personal Information
教授
博士生导师
硕士生导师
性别：男
毕业院校：比利时布鲁塞尔自由大学
学位：博士
所在单位：物理学院
电子邮箱：span@dlut.edu.cn
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光子扫描隧道显微镜测量折射率图象的初步研究
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论文类型：期刊论文
发表时间：2000-06-28
发表刊物：光电工程
收录刊物：Scopus、PKU、CSCD
卷号：27
期号：3
页面范围：8-11
ISSN号：1003-501X
关键字：光子扫描隧道显微镜;折射率测量
摘要：光子扫描隧道显微镜(PSTM: Photon Scanning Tunneling Microscope) 测得的图象不仅与形貌有关, 而且与贯穿整个样品的光学参数有关, 即有可能用它获取样品折射率图象.本文在理想情况下运用多层薄膜理论,分析了PSTM中各种参量(样品层折射率n1, 厚度d1, 入射角θ0)对折射率测量的影响.结果表明在适当的样品厚度d1(d1≤λ/8),能达到较大灵敏度,且无明显假象,结论可供参数设置特别是样品制备时参考.