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Indexed by:会议论文

Date of Publication:2013-08-15

Page Number:247-247

Key Words:EAST;托卡马克;芯部;电子温度;数值模拟;器壁;第一壁;冷却系统;相对速度;充电模块;

Abstract:引言来自于等离子体与器壁相互作用产生的尘埃颗粒有可能会对托卡马克的安全可持续运行构成威胁。这些尘埃有可能运动到芯部等离子体中,稀释芯部等离子体,造成等离子体温度的降低,甚至可能会引起等离子体放电的终止。同时,由于尘埃的质量很大,在电场中加速会获得很高的能量,入射到器壁有可能打穿器壁,引起冷却系统的破裂,因此,研究尘埃的输运以及它们对器壁的损伤很有必要。针对此问题,我们开发了DTS(Dust Transport Simulation)程序来对EAST中的尘埃行为进行模拟。