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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:2013-12-15

Journal:核聚变与等离子体物理

Included Journals:Scopus、PKU、ISTIC、CSCD

Volume:33

Issue:4

Page Number:297-303

ISSN No.:0254-6086

Key Words:逃逸电子;环向电场;等离子体破裂;HL-2A装置

Abstract:采用数值模拟方法对托卡马克等离子体破裂期间的逃逸电子(RE)演化行为进行研究。程序所使用的物理模型包含了初级和次级两种RE产生机制，并耦合了麦克斯韦方程组。模拟结果显示：在等离子体破裂开始0.1~0.2ms后感应产生了很强的环向电场，持续约0.1ms之后该环向电场达到最大值，但是在大致2.5ms内逐渐衰减。同时模拟结果也证明了RE产生于等离子体中心处的局部区域，并且在破裂之后约1ms时间内就形成了RE束，实验中等离子体破裂之后出现的几十毫秒的电流平台主要是由RE携带的。从理论模拟与实验的对比中可以得出：HL-2A 15335次放电等离子体破裂期间欧姆电流转化为逃逸电流(RC)的转化率在40%~60%。次级产生机制在RE束的形成过程当中起到了关键作用。