郭杏林
个人信息Personal Information
教授
博士生导师
硕士生导师
性别:男
毕业院校:大连理工大学
学位:博士
所在单位:力学与航空航天学院
电子邮箱:xlguo@dlut.edu.cn
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含缺陷疲劳试件的锁相红外热成像无损检测
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论文类型:期刊论文
发表时间:2010-01-01
发表刊物:光学学报
收录刊物:Scopus、EI、PKU、ISTIC、CSCD
卷号:30
期号:10
页面范围:2776-2781
ISSN号:0253-2239
关键字:成像系统; 无损检测; 红外热像法; 锁相; 缺陷
摘要:锁相红外热像技术由于其实时,快速,无损以及非接触等优点,被逐渐应用于疲劳研究中.基于锁相红外热像理论,用法国Cedip公司开发的锁相红外热像系统
对含缺陷的疲劳试件进行了无损检测,并快速测得了其疲劳极限.结果表明,相位图比幅值图能提供的缺陷内部信息,恰当选择检测频率是无损检测的关键,缺陷面
积越大检测精度越高.随缺陷深度的增加,疲劳试件的疲劳极限降低