![]() |
个人信息Personal Information
教授
博士生导师
硕士生导师
性别:男
毕业院校:大连理工大学
学位:博士
所在单位:材料科学与工程学院
电子邮箱:mklei@dlut.edu.cn
扫描关注
基于功率谱分析的表面涂层厚度超声无损测量方法
点击次数:
论文类型:期刊论文
发表时间:2004-12-30
发表刊物:中国表面工程
收录刊物:ISTIC
卷号:17
期号:6
页面范围:7-9,14
ISSN号:1007-9289
关键字:表面涂层;频谱分析;干涉;超声水浸聚焦;超声测厚
摘要:针对厚度小于1 mm的薄膜或涂层材料,研究了一种超声测厚信号处理方法.当超声波在两层或多层介质中传播时,不同界面的回波信号会相互叠加并发生干涉.当超声波在厚度L、声速ν、声阻抗Z2的介质(介于声阻抗分别为Z1和Z3的两介质之间)中传播,由于界面回波的叠加与干涉,回波信号的功率谱在频率为f0=ν /4L的奇数或偶数倍处出现周期性极值点.因此,当声速ν已知,待测试样的厚度L可由关系式L=ν /2△f 来求得.其中,△f是相邻两极值的频率间隔.根据该原理,采用水浸聚焦脉冲回波超声检测方法,对镍基高温合金基体上的ZrO2热喷涂涂层(270~400 μm)进行了厚度测试,试验结果与金相法测试结果相符.