刘贵昌
个人信息Personal Information
教授
博士生导师
硕士生导师
性别:男
毕业院校:大连理工大学
学位:博士
所在单位:化工学院
学科:化学工程. 水科学与技术
办公地点:西部校区化工综合楼A503
联系方式:gchliu@dlut.edu.cn
电子邮箱:gchliu@dlut.edu.cn
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电参数对纯铝微弧氧化膜结构及性能的影响
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论文类型:期刊论文
发表时间:2007-01-01
发表刊物:材料导报
收录刊物:PKU、ISTIC、CSCD
卷号:21
期号:11专辑
页面范围:263-266
ISSN号:1005-023X
关键字:电参数; 微弧氧化; 耐蚀性
摘要:在Na_2SiO_3电解液体系下用微弧氧化法制得铝氧化膜,利用X射线衍射、扫描电镜、TR110袖珍粗糙度仪、覆层测厚仪、显微硬度仪及点滴腐蚀试验
等手段研究了电流密度、脉冲占空比及频率对纯铝微弧氧化膜结构及性能的影响。结果表明:随电流密度的增大,alpha-Al_2O_3和gamma-Al
_2O_3相的含量增加,陶瓷膜的硬度及粗糙度也增加,厚度和耐蚀性先增大后减小;随占空比的增大,陶瓷膜的厚度、硬度及粗糙度均增加,当占空比小于30
%时,腐蚀时间随占空比的增大而延长,占空比大于30%时腐蚀时间略有缩短,占空比为30%时膜层的耐蚀性达到最佳;频率对陶瓷膜的粗糙度和硬度影响较小
,5000Hz频率段下膜层的厚度最厚,耐蚀性达到最佳。