张庆瑜

个人信息Personal Information

教授

博士生导师

硕士生导师

性别:男

毕业院校:复旦大学

学位:博士

所在单位:物理学院

学科:凝聚态物理

办公地点:大连理工大学三束材料改性重点实验室1号楼203房间

联系方式:qyzhang@dlut.edu.cn 0411-84707930 转 13

电子邮箱:qyzhang@dlut.edu.cn

扫描关注

论文成果

当前位置: 中文主页 >> 科学研究 >> 论文成果

Si(001)基片上反应射频磁控溅射ZnO薄膜的两步生长方法

点击次数:

论文类型:期刊论文

发表时间:2007-04-12

发表刊物:物理学报

收录刊物:SCIE、PKU、ISTIC、CSCD

卷号:56

期号:04

页面范围:2369-2376

ISSN号:1000-3290

关键字:ZnO薄膜;反应射频磁控溅射;两步生长;形貌分析

摘要:利用反应射频磁控溅射技术,采用两步生长方法制备了ZnO薄膜,探讨了基片刻蚀时间和低温过渡层沉积时间对ZnO薄膜生长行为的影响.研究结果表明,低温ZnO过渡层的沉积时间所导致的薄膜表面形貌的变化与过渡层在Si(001)表面的覆盖度有关.当低温过渡层尚未完全覆盖基片表面时,ZnO薄膜的表面岛尺度较小、表面粗糙度较大,薄膜应力较大;当低温过渡层完全覆盖Si(001)基片后,ZnO薄膜的表面岛尺度较大、表面粗糙度较小,薄膜应力较小.基片刻蚀时间对薄膜表面形貌的影响与低温过渡层的成核密度有关.随着刻蚀时间的增加,ZnO薄膜的表面粗糙度逐渐下降,表面形貌自仿射结构的关联长度逐渐减小.