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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:1998-01-01

Journal:大连理工大学学报

Included Journals:PKU、CSCD

Volume:38

Issue:5

Page Number:521

ISSN No.:1000-8608

Key Words:半导体激光器; 时间分辨率; 灵敏度/电光采样

Abstract:研制了１．３μｍ半导体激光器电光采样测试装置，并对测试系统的性能进行了分析研究，确定了系统的时间分辨率为１６．７ｐｓ，电压灵敏度为０．２６ｍＶ／Ｈｚ，工作频率可在１～５ＧＨｚ连续改变．通过测量ＨＰ３３００５Ｃ疏状脉冲发生器产生的超短电信号，证明了系统的时间分辨率高于Ｔｅｋ７１０４采样示波器（带Ｓ４采样头）．对高速Ｇｅ探测器脉冲响应特性的测量进一步说明了系统的实用性．