Release Time:2019-03-10  Hits:

Indexed by: Journal Article

Date of Publication: 1998-01-01

Journal: 大连理工大学学报

Included Journals: CSCD、PKU

Volume: 38

Issue: 5

Page Number: 521

ISSN: 1000-8608

Key Words: 半导体激光器; 时间分辨率; 灵敏度/电光采样

Abstract: 研制了１．３μｍ半导体激光器电光采样测试装置，并对测试系统的性能进行了分析研究，确定了系统的时间分辨率为１６．７ｐｓ，电压灵敏度为０．２６ｍＶ／Ｈｚ，工作频率可在１～５ＧＨｚ连续改变．通过测量ＨＰ３３００５Ｃ疏状脉冲发生器产生的超短电信号，证明了系统的时间分辨率高于Ｔｅｋ７１０４采样示波器（带Ｓ４采样头）．对高速Ｇｅ探测器脉冲响应特性的测量进一步说明了系统的实用性．