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绝缘子预期电荷Q50的计算

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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:2016-04-28

Journal:实验科学与技术

Volume:14

Issue:2

Page Number:53-55

ISSN No.:1672-4550

Key Words:绝缘子;预期电荷;老化时间;数值计算

Abstract:绝缘子作为电力系统的重要部件,当长期在直流环境工作时,其绝缘内部将发生离子迁移,致使其绝缘性能降低,严重时会引发电力系统故障.因此,绝缘子出厂产品需要通过老化试验等一系列试验验证其绝缘性能,在此之前,需要计算其预期电荷量.该文针对现有标准绝缘子预期电荷计算公式值得探讨之处,重新基于微积分原理分析了绝缘子预期电荷量的定义与计算公式,提出了基于Matlab的数值计算方法,并进行了验证,得到了一组绝缘子预期电荷量较为精确的计算结果,为后续绝缘子老化机理的进一步理论分析和老化试验提供了重要参考.

Pre One:Degradation of benzene by bipolar pulsed series surface/packed-bed discharge reactor over MnO2-TiO2/zeolite catalyst

Next One:Enhanced Degradation of Benzene in Surface/Packed-Bed Hybrid Discharge System: Optimization of the Reactor Structure and Electrical Parameters