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论文类型：会议论文

发表时间：2002-09-10

页面范围：57-60

关键字：超声频谱;共振测厚;表面特征;正交频率分布

摘要：超声测厚是一项常规的技术，但是当被测体较薄(厚度小于lmm)时，由于超声盲区的限制，常规超声测厚有时会显得比较困难。共振测厚技术利用超声波在被测体中来回反射形成共振的特征来测童厚度.本文论述的超声测厚方法是基于对共振幅度谱的分析，通过脉冲回波法侧量金属贾层厚度.介绍1998年以来超声频谱分析技术在共振测厚、组织与结构表征及表面特性三方面的应用进展.