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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:2005-09-14

Journal:化学学报

Included Journals:SCIE、PKU、ISTIC、CSCD、Scopus

Volume:63

Issue:17

Page Number:1581-1586

ISSN No.:0567-7351

Key Words:O-Ru体系;5-MP势;台阶面;表面吸附;振动指纹;频率

Abstract:利用原子与表面簇合物相互作用的5参数Morse势方法(简称5-MP)系统地研究了O-Ru低指数面及Ru(1120),(1121)台阶面体系,获得了吸附几何、结合能、振动频率等临界点特性,所得相关数据与实验结果非常吻合.并且通过理论计算及原子吸附态振动指纹的遗传、遗变特性预言了氧原子在Ru(1121)台阶面的吸附.本文认为氧原子在HCP晶格的金属表面上的吸附倾向于三重位.