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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:2010-12-15

Journal:核聚变与等离子体物理

Included Journals:Scopus、PKU、ISTIC、CSCD

Volume:30

Issue:4

Page Number:306-311

ISSN No.:0254-6086

Key Words:等离子体压强;磁流体;扭曲不稳定性

Abstract:应用半解析方法,研究了直圆柱位形下等离子体压强P0分别为P0=0、P0=常数和P0=f(r)时Line-tied扭曲不稳定性的增长率和二维径向本征函数的演化规律.结果表明,P0=0和P0=常数时的轴向波数k的范围相同,但P0=常数时的增长率比P0=0时的小.P0=f(r)时的轴向波数k的范围和增长率则都比P0=0时的大,同时磁流体的速度变化也较大.因此,P0=f(r)更接近实际的物理模型(例如日冕的喷射问题).