Release Time:2019-03-10  Hits:

Indexed by: Journal Article

Date of Publication: 2010-12-15

Journal: 核聚变与等离子体物理

Included Journals: CSCD、ISTIC、PKU、Scopus

Volume: 30

Issue: 4

Page Number: 306-311

ISSN: 0254-6086

Key Words: 等离子体压强;磁流体;扭曲不稳定性

Abstract: 应用半解析方法,研究了直圆柱位形下等离子体压强P0分别为P0=0、P0=常数和P0=f(r)时Line-tied扭曲不稳定性的增长率和二维径向本征函数的演化规律.结果表明,P0=0和P0=常数时的轴向波数k的范围相同,但P0=常数时的增长率比P0=0时的小.P0=f(r)时的轴向波数k的范围和增长率则都比P0=0时的大,同时磁流体的速度变化也较大.因此,P0=f(r)更接近实际的物理模型(例如日冕的喷射问题).