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电光分析天平常见故障的排除
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  • 论文类型:期刊论文
  • 发表时间:2008-04-15
  • 发表刊物:实验室科学
  • 文献类型:J
  • 期号:2
  • 页面范围:144-145
  • ISSN号:1672-4305
  • 关键字:电光天平;故障;排除
  • 摘要:电光分析天平是一种能够测量物质质量的精密仪器,是高等院校实验室化学分析和物质精密测量常用的仪器,在使用中其光学部分出现故障是最常见的.文章主要对电光分析天平光学系统在使用中出现的常见问题及解决方法详细介绍,兼顾其他故障.

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