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基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方法

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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:2013-12-25

Journal:无损探伤

Volume:37

Issue:6

Page Number:20-21,26

ISSN No.:1671-4423

Key Words:超声衍射时差法;盲区;频谱分析

Abstract:提出了一种利用频谱分析法从超声衍射时差法(TOFD)检测中直通波与缺陷上尖端衍射波混叠波形中提取缺陷位置信息,进而确定缺陷埋深的方法.对厚度为35mm的碳钢试块中埋深5mm的底面开口槽进行了实验测试,效果较好.分析表明,在本文采用的检测参数下,利用该方法理论上可将近表面盲区深度从8.3mm减小至3mm.并进一步讨论了该方法在减小TOFD近表面盲区问题中的适用范围、优点与局限性.

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