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刘军山

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微沟道阵列基片热压成型收缩规律研究
  • Hits:
  • Indexed by:

    期刊论文

  • First Author:

    宋满仓

  • Co-author:

    李平正,刘军山

  • Date of Publication:

    2017-06-08

  • Journal:

    模具工业

  • Document Type:

    J

  • Volume:

    43

  • Issue:

    6

  • Page Number:

    35-39

  • ISSN No.:

    1001-2168

  • Key Words:

    微沟道阵列基片;热压成型模;收缩率;正交试验;生物芯片

  • Abstract:

    以微沟道阵列基片热压成型收缩率为研究对象,利用正交试验进行热压成型研究,结合基片的收缩规律,最终确定热压成型模零件的收缩率,并根据微沟道阵列基片与多孔支架基片之间的装配关系,应用UG9.0模拟分析了合格微沟道阵列基片的收缩率范围.结果表明:热压温度是影响微沟道阵列基片收缩率的主要因素,其次是热压时间,热压压力影响最小;热压工艺参数对微沟道阵列基片纵、横向收缩率有相似的影响规律,其收缩主要为结晶收缩.

Pre One:基于统计方法的超声振动电火花油的空化场表征

Next One:Replication of large scale micro pillar array with different diameters by micro injection molding