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发布时间：2019-03-10

论文类型：期刊论文

发表时间：2013-05-10

发表刊物：材料导报

收录刊物：CSCD、ISTIC、PKU

卷号：27

期号：9

页面范围：55-60

ISSN号：1005-023X

关键字：近场;热辐射;实验测量

摘要：总结了实验测量近场辐射传热的相关研究,指出对这种传热方式的实验测量中,利用当前的扫描探针技术控割两薄膜间距为微米级或纳米级并且保持相互平行是极其困难的,提出了结合CMOS(互补金属氧化物半导体)和MEMS(微机电系统)微加工工艺构造具有固定间隙平行薄膜结构的新思路.