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发布时间：2019-03-10

论文类型：期刊论文

发表时间：2013-07-15

发表刊物：光学精密工程

收录刊物：Scopus、CSCD、ISTIC、PKU、EI

卷号：21

期号：7

页面范围：1825-1830

ISSN号：1004-924X

关键字：注塑成型;平板微小器件;翘曲;极差分析法

摘要：对显著影响平板微小器件注塑成型的翘曲现象进行了研究.为了减少翘曲量,以带十字微沟槽的微流控芯片的基片为研究对象,研究了注塑工艺涉及的工艺参数.从注塑残余应力角度分析了翘曲变形的产生机理与演化过程.然后,以数值仿真和工艺实验为手段,建立了平板微小器件翘曲的测量方法.设计加工了基于硅型芯的注塑模具,以翘曲测量方法为基础,利用正交试验获得了最优注塑工艺参数.最后,通过极差分析法定量分析工艺参数对翘曲的影响.实验显示,通过工艺优化获得的最小翘曲量为141 μm,工艺参数对翘曲的影响由大到小依次为:保压时间、模具温度、保压压力、熔体温度、冷却时间.该研究成果为平板微小器件注塑工艺提供了参考依据.