Release Time:2019-03-10  Hits:

Indexed by: Journal Article

Date of Publication: 2005-02-10

Journal: 大连理工大学学报

Included Journals: EI、Scopus、CSCD、ISTIC、PKU

Volume: 45

Issue: 1

Page Number: 39-44

ISSN: 1000-8608

Key Words: 天线罩;射线跟踪法;平面波谱-表面积分法;瞄准误差

Abstract: 天线罩在保护雷达天线不受环境影响的同时,又会对天线的电磁辐射产生某些干扰,使天线的电气性能降低. 因此,需要对天线-罩系统的电气性能进行精确分析和仿真预测. 在天线罩工程中应用较多的是射线跟踪(RT)法和平面波谱-表面积分(PWS-SI)法,通过对比分析发现PWS-SI技术在分析精度和运算速度上具有较突出的优点,同时具有精确处理天线-罩系统近场的灵活性. 应用PWS-SI方法对某一类较小的天线-罩系统E-面上的远场和方向图(SP)、瞄准误差(BSE)和瞄准误差率(BSES)进行了数值分析和计算,并将仿真计算结果与实测值进行比较,发现两者具有良好的一致性,证明PWS-SI方法在预测这类天线-罩系统的电气性能上是准确有效的.