Release Time:2019-03-10  Hits:

Indexed by: Journal Article

Date of Publication: 2012-07-16

Journal: 计算机工程与设计

Included Journals: CSCD、ISTIC、PKU

Volume: 33

Issue: 7

Page Number: 2607-2614

ISSN: 1000-7024

Key Words: 嵌入式软件测试;最大堆栈深度(WCSD);中断嵌套;中断状态;多层中断叠加模型

Abstract: 嵌入式软件最大堆栈深度(worst-case-stack depth,WCSD)是指导硬件设计和软件开发的重要指标,然而它的测量却极其困难.通过详细分析堆栈使用原因及其相互关系,建立多层中断叠加模型并提出一种WCSD动态检测方法,以检测嵌入式软件堆栈深度上限.同时,基于嵌入式软件全数字仿真平台完成实验以验证该模型和方法的可行性.实验结果表明,该模型和方法可测得较准确的WCSD结果,有助于在降低内存开铕,保证嵌入式系统的堆栈安全以及提高嵌入式软件的可靠性.