含缺陷疲劳试件的锁相红外热成像无损检测
发表时间：2019-03-11
点击次数：
论文类型：期刊论文
第一作者：赵延广
通讯作者：Ren, M.(renmf@dlut.edu.cn)
合写作者：郭杏林,任明法
发表时间：2010-01-01
发表刊物：光学学报
收录刊物：Scopus、EI、PKU、ISTIC、CSCD
文献类型：J
卷号：30
期号：10
页面范围：2776-2781
ISSN号：0253-2239
关键字：成像系统; 无损检测; 红外热像法; 锁相; 缺陷
摘要：锁相红外热像技术由于其实时,快速,无损以及非接触等优点,被逐渐应用于疲劳研究中.基于锁相红外热像理论,用法国Cedip公司开发的锁相红外热像系统
对含缺陷的疲劳试件进行了无损检测,并快速测得了其疲劳极限.结果表明,相位图比幅值图能提供的缺陷内部信息,恰当选择检测频率是无损检测的关键,缺陷面
积越大检测精度越高.随缺陷深度的增加,疲劳试件的疲劳极限降低
是否译文：否