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论文类型：期刊论文
发表时间：2013-01-01
发表刊物：光电子·激光
收录刊物：Scopus、EI、PKU、ISTIC、CSCD
卷号：24
期号：12
页面范围：2377-2382
ISSN号：1005-0086
关键字：阶梯相位; 相位测量轮廓术(PMP); 相位去包裹; 条纹分析
摘要：为减少投影条纹数量,提高测量速度,提出了一种改进的阶梯相位去包裹算法。算法采用彩色条纹投影测量物体三维形貌,将正弦和阶梯相位条纹分别输入彩色图像
   的红色和蓝色通道构成彩色条纹,由DLP投影仪将四步相移彩色条纹投影到待测物体上,由彩色CCD相机采集。利用颜色分离技术得到2组四步相移条纹图,其
   中一组为4幅正弦条纹,由四步相移法求得正弦条纹包裹相位,另一组4幅阶梯相位编码条纹图,由与正弦条纹周期一致的阶梯相位构成,经阶梯相位解码确定条纹
   级次,利用自校正算法去除条纹级次噪点后,实现相位去包裹。进行了实际测量,结果表明,本方法测量精度与采用四步相移法相当,但只需4幅条纹图,有效减少
   了投影和采集的条纹数量,提高了测量速度。