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论文类型：期刊论文
发表时间：2015-01-01
发表刊物：光电子·激光
收录刊物：Scopus、EI、PKU、CSCD
卷号：26
期号：8
页面范围：1549-1552
ISSN号：1005-0086
关键字：相位测量轮廓术(PMP); 相移法; 相位去包裹; 线积分; 泊松方程; 偏导数
摘要：提出了一种无需相位去包裹的微分算法,应用于投影栅三维形貌测量。首先由计算机设计并生成4幅四步相移正弦条纹图,利用DLP投影仪将其投影到待测物体上
   ;然后由CCD相机采集受待测物体面型调制的变形光栅条纹图。再利用4幅四步相移变形条纹图,经数值运算求得沿水平和垂直方向上待测物体相位的偏导数,而
   相位偏导数的积分过程相当于求解泊松方程,于是利用离散余弦变换(DCT)求解泊松方程就可得到待测物体三维形貌对应的相位数据,从而重构待测物体的三维
   形貌。测量结果表明,相位解调的标准差小于0.0317 rad,验证了本文方法的有效性。