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Residual stress on surface and cross-section of porous silicon studied by micro-Raman spectroscopy
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发布时间：2023-04-27
发表时间：2022-10-08
发表刊物：Chinese Physics Letters
所属单位：运载工程与力学学部
卷号：22
期号：4
页面范围：984-986
ISSN号：0256-307X
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