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一种基于透明光弹材料同时测量饱和颗粒介质应力和位移的方法
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专利名称：一种基于透明光弹材料同时测量饱和颗粒介质应力和位移的方法
第一作者：赵红华
发明设计人：雷振坤,邱鹏,刘聪
申请号：CN201711365800.3
授权日期：2017-12-18
授权号：CN108106973A
发布时间：2019-10-10
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