Hits:
Indexed by:期刊论文
Date of Publication:2011-07-20
Journal:电子设计工程
Included Journals:ISTIC
Volume:19
Issue:14
Page Number:120-122
ISSN No.:1674-6236
Key Words:恒流源;程控;大电流;超级电容器
Abstract:针对研究超级电容器的大电流充电性能的目的,设计了一种基于单片机控制的恒流测试系统。笔者采用大功率MOSFET设计的恒流源以及对应用效果进行了分析。通过对实际超级电容器进行测试,结果表明：该电路具有结构简单,电流稳定性强,并且可应用于大电流的场合下。
