Release Time:2019-03-11 Hits:
Indexed by: Journal Article
Date of Publication: 2011-07-20
Journal: 电子设计工程
Included Journals: ISTIC
Volume: 19
Issue: 14
Page Number: 120-122
ISSN: 1674-6236
Key Words: 恒流源;程控;大电流;超级电容器
Abstract: 针对研究超级电容器的大电流充电性能的目的,设计了一种基于单片机控制的恒流测试系统。笔者采用大功率MOSFET设计的恒流源以及对应用效果进行了分析。通过对实际超级电容器进行测试,结果表明:该电路具有结构简单,电流稳定性强,并且可应用于大电流的场合下。