含缺陷疲劳试件的锁相红外热成像无损检测
Release time:2019-03-11
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Indexed by:期刊论文
First Author:赵延广
Correspondence Author:Ren, M.(renmf@dlut.edu.cn)
Co-author:郭杏林,任明法
Date of Publication:2010-01-01
Journal:光学学报
Included Journals:Scopus、EI、PKU、ISTIC、CSCD
Document Type:J
Volume:30
Issue:10
Page Number:2776-2781
ISSN No.:0253-2239
Key Words:成像系统; 无损检测; 红外热像法; 锁相; 缺陷
Abstract:锁相红外热像技术由于其实时,快速,无损以及非接触等优点,被逐渐应用于疲劳研究中.基于锁相红外热像理论,用法国Cedip公司开发的锁相红外热像系统
对含缺陷的疲劳试件进行了无损检测,并快速测得了其疲劳极限.结果表明,相位图比幅值图能提供的缺陷内部信息,恰当选择检测频率是无损检测的关键,缺陷面
积越大检测精度越高.随缺陷深度的增加,疲劳试件的疲劳极限降低
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