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个人信息Personal Information
副教授
博士生导师
硕士生导师
性别：男
毕业院校：大连理工大学
学位：博士
所在单位：物理学院
学科：光学工程
办公地点：大连理工大学物理学院325室
联系方式：
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Highly precise thickness measurement of multilayer films based on the cross-correlation algorithm using a widely tunable MG-Y laser
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论文类型：期刊论文
论文编号：393412
发表时间：2024-05-01
发表刊物：APPLIED OPTICS
卷号：63
期号：13
页面范围：3570-3575
ISSN号：1559-128X
关键字：INTERFEROMETER; LAYERS; PHYSICAL THICKNESS; REFRACTIVE-INDEX MEASUREMENT