Release Time:2019-03-10  Hits:

Indexed by: Journal Article

Date of Publication: 2013-09-30

Journal: 压力容器

Included Journals: ISTIC

Issue: 9

Page Number: 31-38

ISSN: 1001-4837

Key Words: 双平板封头;焊接残余应力;有限元;单元生死技术

Abstract: 双平板封头结构最常见的问题是面板与工艺接管焊接部位开裂引起泄漏，而焊接残余应力是重要的影响因素之一。基于ANSYS软件中的APDL语言、单元生死技术以及热-结构间接耦合法对双平板封头结构焊接温度场、应力场进行了数值模拟，获得了焊接残余应力的大小与分布规律。计算结果表明：在焊缝区环向应力水平较高，易诱使焊缝开裂失效；在焊缝附近区域产生了较大压应力，主要是由于焊缝区材料受热向外膨胀而产生。模拟结果为焊接残余应力评定、控制焊接残余应力提供了理论依据，并对提高双平板封头结构的可靠性和安全性具有重要意义。