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论文类型：期刊论文

发表时间：2009-09-05

发表刊物：环境工程学报

收录刊物：ISTIC、CSCD

卷号：3

期号：9

页面范围：1687-1691

ISSN号：1673-9108

关键字：废电路板;热解;灰色模型;分布活化能模型

摘要：分别在管式炉反应器和热天平上对废电路板的热解行为进行实验研究.在管式炉反应器上考察了在同一升温速率(20 K/min)下不同热解终温(400、500、600、700和800℃)对废电路板热解产物产率的影响.在相关实验数据的基础上尝试用灰色理论及方法建立基于热解终温的废电路板热解灰色产率预测模型GM(1,1),预测结果与实验数据对比表明,该预测模型精度较高,能够较好地对不同热解终温下废电路板热解产物产率进行预测.此外,在热天平上获得的不同升温速率(10、15和20 K/min)下的热失重曲线表明,废电路板的失重速率峰随升温速率的提高逐渐向高温侧移动.采用分布活化能模型对废电路板热失重曲线进行动力学分析,获得废电路板热解活化能的变化曲线.计算结果表明,废电路板热解过程中活化能并不是单一数值,而是随失重率变化的一个函数.所得废电路板热解活化能值在140～250 kJ/mol范围内变化,当失重率在10%～60%之间,活化能值总体呈缓慢上升的趋势,但当失重率>60%时,活化能值由155.4 kJ/mol迅速增加到244.4 kJ/mol.