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论文类型：期刊论文

发表时间：2003-02-28

发表刊物：中国电机工程学报

收录刊物：PKU、ISTIC、CSCD

卷号：23

期号：2

页面范围：82-87

ISSN号：0258-8013

关键字：双断口及多断口真空开关技术;动态介质恢复;击穿弱点;统计特性

摘要：从双断口真空开关的等值模型出发,分析了双断口真空开关的动态介质恢复过程,说明只要恢复电压的峰值和上升速度低于某一极限值,整个双断口真空开关并不会因为一个灭弧室发生重击穿而导致开断失败.在此基础上,理论推导得到双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增长倍数Kn,同时引入"击穿弱点"概念和概率统计方法,分析建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型和弧后重击穿统计分布模型,它们可以用来有力解释双断口及多断口真空开关与单断口真空开关相比开断能力有显著提高的机理.最后对电场应力x的物理意义进行了讨论,说明实质上代表的是微粒引导真空间隙击穿所需的能量.