论文类型：期刊论文
发表时间：2008-12-15
发表刊物：哈尔滨工业大学学报
收录刊物：Scopus、EI、PKU、ISTIC
卷号：40
期号：12
页面范围：1895-1899
ISSN号：0367-6234
关键字：实时子结构实验;时间滞后;粘滞阻尼器
摘要：为了进行实时子结构实验,必需分析实验软硬件系统的实时特性.利用美国MTS公司的FlexTest GT控制器建立了实时子结构实验系统,并对一安装粘滞阻尼器的单层框架结构进行了实时子结构实验,实验中粘滞阻尼器为实验子结构,其余部分为数值子结构,实验与计算结果吻合很好.实验表明利用MTS-SCHENCK系统可以满足实时子结构实验对实验系统的要求,且实时子结构实验可以很好地反映速度相关型阻尼器的性能.另外,根据实验结果提出一种作动器响应简化模型,并根据这个模型分析了时滞对实验结果的影响,分析结果表明实验误差随时滞的增大而增大.
