基于社会网络分析的专利基础技术识别——以半导体产业为例

Release Time:2019-03-11  Hits:

Indexed by: Journal Article

Date of Publication: 2017-04-18

Journal: 情报杂志

Included Journals: CSSCI

Volume: 36

Issue: 4

Page Number: 78-84

ISSN: 1002-1965

Key Words: 专利数据;基础技术;共性技术;度中心性;社会网络分析;结构洞;熵值法

Abstract: [目的/意义]随着产业技术的快速发展和专利申请数量的迅速增加,如何从海量专利文献中有效识别产业基础技术具有重要意义.[方法/过程]首先以USPTO数据库中的专利数据为样本构建技术领域引用矩阵,然后选取社会网络分析的出度、入度、中介中心度、接近中心度、有效规模和限制度等6个指标建立综合评价指标体系.在此基础上,采用熵值法赋权识别出技术领域引用矩阵中的产业基础技术,最后以半导体产业为例进行了实证分析.[结果/结论]结果表明,半导体装置的制造、活性固态元件、金属加工和涂层工艺等专利技术领域为半导体产业中的基础技术;社会网络分析方法有助于快速有效识别产业基础技术.

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