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HfOx基阻变存储器Forming成功率及短期保持特性的测试、分析及优化

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Leading Scientist:王小虎

Supported by:其他课题

Status:在研

Supported by:厦门半导体工业技术研发有限公司

Nature of Project:横向

Date of Project Approval:2023-10-07

Scheduled completion time:2026-07-20

Date of Project Initiation:2023-10-07

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