YongXin Liu
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低频频率和O2含量对双频容性耦合等离子体Ar-O2放电的影响
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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:2014-01-08

Journal:科学技术与工程

Included Journals:PKU、ISTIC

Volume:14

Issue:1

Page Number:41-44,58

ISSN No.:1671-1815

Key Words:双频容性耦合等离子体;四极杆质谱;离子能量分布;平均能量

Abstract:利用四极杆质谱仪研究了Ar/O2混合气体放电中低频频率和O2含量对离子能量分布和平均能量的影响.研究结果表明当低频频率增大时,离子能量逐渐由中频机制向高频机制变化,其能量分布的马鞍型双峰结构逐渐收缩,变得不明显.Ar+离子由于共振电荷交换的影响获得更多的低能离子,其平均能量比O2+离子的稍低.增大氧气含量,电离率增大,Ar+离子和O2+离子的高低能峰均向高能区移动,最大能量值逐渐右移.同等条件下的Ar+离子的平均能量均低于O2+离子.

Personal information

Professor
Supervisor of Doctorate Candidates
Supervisor of Master's Candidates

Gender:Male

Alma Mater:大连理工大学

Degree:Doctoral Degree

School/Department:物理学院

Discipline:Plasma physics

Business Address:大连理工大学三束材料改性教育部重点实验室3号楼201室

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