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论文类型：期刊论文

发表时间：2011-07-20

发表刊物：电子设计工程

收录刊物：ISTIC

卷号：19

期号：14

页面范围：120-122

ISSN号：1674-6236

关键字：恒流源;程控;大电流;超级电容器

摘要：针对研究超级电容器的大电流充电性能的目的,设计了一种基于单片机控制的恒流测试系统。笔者采用大功率MOSFET设计的恒流源以及对应用效果进行了分析。通过对实际超级电容器进行测试,结果表明：该电路具有结构简单,电流稳定性强,并且可应用于大电流的场合下。