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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:2004-02-10

Journal:大连理工大学学报

Included Journals:EI、PKU、ISTIC、CSCD、Scopus

Volume:44

Issue:1

Page Number:56-59

ISSN No.:1000-8608

Key Words:聚醚砜酮薄膜;炭化;XPS;XRD;FTIR

Abstract:由XPS谱图分析出PPESK除了H以外的主要组成元素为C、N、O和S,且随着炭化温度的升高,N、O和S元素的质量分数减少,而C的质量分数增加;d002值由室温的0.458 10 nm降至950 ℃的0.350 37 nm,接近于石墨的标准层间距(0.335 40 nm),表明PPESK易于石墨化. 根据FTIR谱带的变化规律,提出了样品在炭化时会沿着二氮杂萘环的N-N键断裂,形成共轭腈基及异氰基的苯环化合物. 异氰基化合物进一步二聚成二苯基碳化二亚胺,后者又聚合生成含氮杂环的多环芳烃. 继续炭化会导致芳杂环的合并和HCN等气态小分子的脱除,生成连续巨大的含氮杂芳环多环化合物.