Release Time:2019-03-10  Hits:

Indexed by: Journal Article

Date of Publication: 2000-09-30

Journal: 大连理工大学学报

Included Journals: CSCD、PKU、Scopus

Volume: 40

Issue: 5

Page Number: 573-576

ISSN: 1000-8608

Key Words: 天线罩;几何参数测量;控制系统

Abstract: 为对天线罩这类薄壁复杂回转体进行测量,研制了天线罩几何参数测量仪.介绍了测量仪基于IPC的开放型控制系统的控制原理及系统构成,探讨了控制系统的软硬件开发技术,并对其中的一些关键技术进行了阐述.控制系统和测量机联机调试后,实现了对天线罩外廓形、壁厚等几何参数准确、快速、经济的自动测量,取得了满意的效果.