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吴兴伟
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工程师

性别: 女

毕业院校: 大连理工大学

学位: 博士

所在单位: 物理学院

学科: 等离子体物理

办公地点: 综合教学一号楼305室

电子邮箱: wuxw@dlut.edu.cn

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高灵敏度光腔衰荡光谱原位诊断介质阻挡放电中NO_2的产生与脱除机理

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论文类型: 会议论文

发表时间: 2013-08-15

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关键字: 光腔衰荡光谱(CRDS);介质阻挡放电(DBD);NO_2脱除;NO_2产生

摘要: 我们建立了高灵敏度脉冲激光-光腔衰荡光谱(Pulsed laser-CRDS,P-CRDS)原位测量介质阻挡放电(DBD)中NO_2绝对数密度装置,通过对508-509 nm波段NO_2光谱的测量,NO_2实际探测极限可达17.5 ppb。在500 Pa气压、900 V放电电压和10 kHz的放电频率下,分别研究了在空气和NO_2/Ar混合气体介质阻挡放电中,NO_2的产生和脱除过程中的NO_2绝对数密度随时间的变化。研究首次发现,NO_2的产生量随放电时间先线性单调增加,当产生量到达一定值时,NO_2的产生量振荡增加。此外,在NO_2脱除实验中发现,介质阻挡放电对NO_2的脱除率可高达85%,且NO_2数密度在放电开始时迅速下降,随后振荡式上升,最后趋于平缓。通过测量NO_2脱除量和脱除率随初始数密度的变化,发现NO_2脱除量与初始数密度之间呈线性关系,而NO_2脱除率与初始数密度之间呈对数关系。NO_2产生和脱除的诸多正负化学反应通道,是造成上述结果的主要原因。此外,介质阻挡放电中的微放电和化学反应动力学机理在决定NO_2绝对数密度中,起着重要作用。

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