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论文类型：期刊论文

发表时间：2009-11-15

发表刊物：电子学报

收录刊物：EI、PKU、ISTIC、CSCD、Scopus

卷号：37

期号：11

页面范围：2557-2560

ISSN号：0372-2112

关键字：电滞回线;铁电薄膜;数值补偿;Sawyer-Tower

摘要：测量铁电薄膜电滞回线必须补偿漏电阻和线性电容的影响.本文采用Sawyer-Tower改进电路,分析了在正弦激励电场下漏电阻和线性电容对自发极化的影响,指出二者分别关于饱和极化点奇对称和偶对称;利用正峰值饱和极化点及其前后相邻两点共3对激励电压和极化电压,推导出漏电阻和线性电容计算公式,进而可实现电滞回线快速数值补偿.本算法漏电阻和线性电容的计算时间仅为二分法用时的2%.