Release Time:2019-03-10  Hits:

Indexed by: Journal Article

Date of Publication: 2000-06-28

Journal: 光电工程

Included Journals: CSCD、PKU、Scopus

Volume: 27

Issue: 3

Page Number: 8-11

ISSN: 1003-501X

Key Words: 光子扫描隧道显微镜;折射率测量

Abstract: 光子扫描隧道显微镜(PSTM: Photon Scanning Tunneling Microscope) 测得的图象不仅与形貌有关, 而且与贯穿整个样品的光学参数有关, 即有可能用它获取样品折射率图象.本文在理想情况下运用多层薄膜理论,分析了PSTM中各种参量(样品层折射率n1, 厚度d1, 入射角θ0)对折射率测量的影响.结果表明在适当的样品厚度d1(d1≤λ/8),能达到较大灵敏度,且无明显假象,结论可供参数设置特别是样品制备时参考.