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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:2000-06-28

Journal:光电工程

Included Journals:Scopus、PKU、CSCD

Volume:27

Issue:3

Page Number:8-11

ISSN No.:1003-501X

Key Words:光子扫描隧道显微镜;折射率测量

Abstract:光子扫描隧道显微镜(PSTM: Photon Scanning Tunneling Microscope) 测得的图象不仅与形貌有关, 而且与贯穿整个样品的光学参数有关, 即有可能用它获取样品折射率图象.本文在理想情况下运用多层薄膜理论,分析了PSTM中各种参量(样品层折射率n1, 厚度d1, 入射角θ0)对折射率测量的影响.结果表明在适当的样品厚度d1(d1≤λ/8),能达到较大灵敏度,且无明显假象,结论可供参数设置特别是样品制备时参考.