Release Time:2019-03-10  Hits:

Indexed by: Journal Article

Date of Publication: 2000-07-30

Journal: 大连理工大学学报

Included Journals: CSCD、PKU

Volume: 40

Issue: 4

Page Number: 388-390

ISSN: 1000-8608

Key Words: 强度统计/微扰;光子扫描隧道显微镜;消假像

Abstract: 以微扰方法为基础,利用双光束照射周期性样品消除由形貌引起的假像.给出了0-方位和π -方位照射下s-极化和p-极化在玻璃光栅上等强度和等高度扫描模式下的近场强度图像.通过比较得到了较好的结果,并讨论了各种参数如极化和针尖与样品之间的距离对光子扫描隧道显微镜图像的影响.此研究有利于显示真实的样品形貌.