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PZT电滞曲线和回零偏差的测量及其对扫描成像的影响

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Indexed by:期刊论文

Date of Publication:1999-02-25

Journal:电子显微学报

Included Journals:CSCD

Issue:1

Page Number:129-131

ISSN No.:1000-6281

Key Words:PZT;电滞曲线;迈氏干涉仪;成像误差

Abstract:本文利用迈氏干涉法测量压电陶瓷扫描头(PZT)的电滞曲线和灵敏度因子.作出了PZT的电滞曲线,得到了灵敏度因子,测出了由电滞特性造成的扫描头不同电压正负回零偏差,讨论了PZT的电滞特性对样品形貌图像的影响及减小误差的方法.

Pre One:纳米孔径近场光学显微成像的数值分析

Next One:PSTM等强度扫描方式下减小假象的数值模拟