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脉冲源激发射频容性放电非线性振荡以及极板覆盖介质层对氢气放电影响的PIC模拟

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Indexed by:会议论文

Date of Publication:2013-08-15

Page Number:243-243

Key Words:脉冲源;PIC;氢分子;负氢离子;托卡马克装置;高振;射频源;表面充电;辅助加热;材料改性;

Abstract:引言负氢离子源因具有高中性化效率,低表面充电等特性,在磁约束核聚变、高能物理、半导体刻蚀、材料改性和纳米材料制备等领域获得了重要应用。在核聚变方面,基于负氢离子源的中性束注入是下一代托卡马克装置,如国际热核聚变实验堆(ITER)必不可少的辅助加热手段。要产生大量的负氢离子,必需先制备高浓度的高振动态氢分子H_2(v)(v≥5)。高振动态氢分子主要来源于高能电子和基态氢分子的EV反应。为提高高振动态氢分子的产生率,孙继忠等人[1]首次提出了在射频源维持放电的基础上,叠加一个脉冲源调节电子能量的思想。本工作,不仅对这种振荡产生的物理机制做出详细解释,更进一步探究极板覆盖介质层对放电的影响。

Pre One:大气压等离子体射流与阴极相互作用二维数值模拟研究

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