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    王友年

    • 教授     博士生导师   硕士生导师
    • 性别:男
    • 毕业院校:大连工学院
    • 学位:硕士
    • 所在单位:物理学院
    • 学科:等离子体物理
    • 办公地点:大连理工大学物理系楼306
    • 联系方式:0411-84707307
    • 电子邮箱:ynwang@dlut.edu.cn

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    中性气体流动对PECVD放电过程的影响

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    论文类型:会议论文

    发表时间:2011-08-08

    页面范围:67-67

    关键字:PECVD;中性气体;放电过程;薄膜沉积;非晶硅;半导体工业;均匀性;损害作用;等离子体密度;气体压强;

    摘要:等离子体增强化学气相沉积(PECVD)工艺是半导体工业中重要技术之一,可在比CVD上艺低的多的温度下实现薄膜沉积(CVD工艺通常要7,8百摄氏度)。温度太高(如500摄氏度以上)往往会对芯片或其他材料产生损害作用,因此,PECVD工艺在半导体工业中有不可替代的作用,常用来沉积非晶硅、氮化硅、氧化硅等薄膜。对于薄膜沉积过程而言,一个非常重要的参数是薄膜沉积的径向均匀性。