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    王友年

    • 教授     博士生导师   硕士生导师
    • 性别:男
    • 毕业院校:大连工学院
    • 学位:硕士
    • 所在单位:物理学院
    • 学科:等离子体物理
    • 办公地点:大连理工大学物理系楼306
    • 联系方式:0411-84707307
    • 电子邮箱:ynwang@dlut.edu.cn

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    光谱法对双频容性耦合CF_4/Ar等离子体诊断

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    论文类型:会议论文

    发表时间:2011-08-08

    页面范围:1

    关键字:等离子体诊断;容性耦合;CF_4/Ar;光谱法;等离子体产生;对双;等离子体刻蚀;加工工艺;放电过程;数密度;

    摘要:碳氟气体在等离子体刻蚀加工工艺中应用非常广泛。在放电过程中碳氟等离子体产生大量用于刻蚀基片的F、CF、CF_2等自由基,测定它们数密度的变化规律对等离子体中物理-化学过程的研究有很重要的意义,从而对加工工艺的改进也是至关重要的。采用光谱法这种既快速简易而且非侵入型的方法对双频容性耦合CF_4等离子体中的自由基数密度进行诊断已越来越被人们所关注。