location: Current position: Home >> Scientific Research >> Paper Publications

射频感应耦合Ar/Cl_2等离子体特性模拟研究

Hits:

Indexed by:会议论文

Date of Publication:2013-08-15

Page Number:1

Key Words:感应耦合;Ar/Cl_2;电不稳定;特性模拟;半导体制造;均匀性;放电空间;电子密度;分子亚稳态;离子流;

Abstract:感应耦合等离子体(ICP)具有低气压、高密度以及均匀性好等优点,在半导体制造工业中得到了广泛应用。混合气体(如Ar/Cl_2)更广泛用于薄膜的刻蚀,尤其是多晶硅的刻蚀。然而,混合气体的应用会带来很多问题,如负离子的出现会改变离子流、电子密度、放电空间结构,引起放电不稳定等。所以理论研究Ar/Cl_2混合气体等离子体特性对实际应用有重要的意义。

Pre One:射频感应耦合等离子体的模式跳变及偏压效应的实验研究

Next One:离子成分比对等离子体浸没离子注入圆柱形介质管内表面鞘层演化特性的影响