Current position: Home >> Scientific Research >> Patents

基于声压反射系数功率谱测量薄层声阻抗的方法

Release Time:2022-10-19  Hits:

First Author: 林莉

Disigner of the Invention: 胡志雄,陈军,LUO Zhongbing,李喜孟

Institution: 材料科学与工程学院

Application Number: 201210049984.3

Prev One:基于压电阻抗法的热障涂层热生长氧化层无损检测方法

Next One:基于声压反射系数功率谱测量薄层声阻抗的方法